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聚焦离子束扫描电镜双束系统在材料研究中的应用

发布日期:2017-04-16   浏览次数

报告人:祁原深 博士

主持人:田博博 博士

时间:2017年4月17号下午14点

地点:信息楼133

 

报告内容:

聚焦离子束技术(Focused Ion Beam)配备在扫描电子显微镜中组成的双束系统在近十年在材料领域中被愈加广泛的应用。这些应用领域不仅包含对传统材料微结构演变的理解的加深,该技术也在研发新材料中起到愈发关键的作用。本报告将介绍聚焦离子束的部分应用领域。其中包括三个部分,即在三维图像数据收集和重建,在制备透射电子显微镜样品,和在精密刻蚀加工上的一些应用。每个部分都将根据具体材料的具体应用做出讲述。

 

祁原深博士简介:

2012年 武汉理工大学和澳大利亚莫纳什大学 材料科学与工程专业 双学士学位

2016年5月 澳大利亚莫纳什大学 材料科学与工程专业 博士学位

2016年6月至今:莫纳什电镜中心 聚焦离子束切割(FIB)培训工程师(莫纳什电镜中心是南半球第一个买球差矫正的titan的单位)

方向:扫描和透射电子显微镜和各种微结构表征 (FEI F20,金属基复合材料,超细晶材料,多孔材料,剧烈塑性形变加工,粉末冶金,热处理等)

精通:力学性能测试,扫描电子显微镜(SEM),背散射衍射(EBSD),聚焦离子束切割(FIB lift-out)和高分辨透射电子显微镜(HR-TEM)